Parmi 3D AOI Xceed
High Accuracy & High Speed
3D AOI 鐳射頭 (TRSC-I)
雙鐳射光源投射技術,四百萬像素的高解析CMOS鏡頭
RGBW LED 光源
遠心鏡頭
超輕量鐳射, 緊湊型設計
業內最高檢測速度: 65cm2/sec @ 14 x 14umm
檢測時間(包含進出板時間): 以PCB 260mm(L) X 200mm(W) 為基準的檢測時間為10秒
3D AOI
3次元測試數據可確保檢測的精準度,克服假性不良
Smart Inspection
整個檢測不受PCB材質、表面及色澤的影響
暗色 PCB
白色 PCB
化工陶瓷 PCB
反射嚴重的部件
Real 3D Image
先進的信號處理技術,展現出無任何雜訊的真實清晰的3D影像
Easy Software
SPI Friendly UI
檢查程序的基本界面構成與PARMI SPI檢測程序布局類似,現有使用者輕車熟路,初次使用者簡單易學。
編程簡單易學
一鍵編程成為可能 單擊該組件所屬類型,其必須的基本檢測項目ROI即可自動生成,無須再度調試即可進行7個項目的檢測。
基本檢查項目:缺件、引腳翹曲、組件尺寸、組件傾斜、 側翻、立碑、反面
條碼& bad mark掃描識別
檢測的同時進行條碼、Badmark識別,提高生產效率。(可識別1D, 2D, QR鐳射marking及印刷條碼)
所有不良類型全能檢出
提取高度的測量數據,使用者可直觀地檢出在傳統2D AOI上難以檢測的引腳翹曲、組件傾斜等不良。并且針對組件大小、缺件、引腳翹曲、側立、立碑、反面、極性、錯件、焊點、連錫、引腳缺失、引腳板彎、橋接、文字檢查(OCR, OCV)、色環電阻、pin等等所有不良類型,均可完美檢出。