Parmi 3D AOI Xceed

xceed ???

PARMI Xceed    


High Accuracy & High Speed

3D AOI 鐳射頭 (TRSC-I)

  • 雙鐳射光源投射技術,四百萬像素的高解析CMOS鏡頭

  • RGBW LED 光源

  • 遠心鏡頭

  • 超輕量鐳射, 緊湊型設計

  • 業內最高檢測速度: 65cm2/sec @ 14 x 14umm

  • 檢測時間(包含進出板時間): 以PCB 260mm(L) X 200mm(W) 為基準的檢測時間為10秒

3D AOI Sensor Head (TRSC-I)


3D AOI

  • 3次元測試數據可確保檢測的精準度,克服假性不良

3D AOI


Smart Inspection

整個檢測不受PCB材質、表面及色澤的影響

  • 暗色 PCB

  • 白色 PCB

  • 化工陶瓷 PCB

  • 反射嚴重的部件


Real 3D Image

  • 先進的信號處理技術,展現出無任何雜訊的真實清晰的3D影像

Real 3D Image


Easy Software

SPI Friendly UI

  • 檢查程序的基本界面構成與PARMI SPI檢測程序布局類似,現有使用者輕車熟路,初次使用者簡單易學。


編程簡單易學

  • 一鍵編程成為可能 單擊該組件所屬類型,其必須的基本檢測項目ROI即可自動生成,無須再度調試即可進行7個項目的檢測。

  • 基本檢查項目:缺件、引腳翹曲、組件尺寸、組件傾斜、 側翻、立碑、反面


條碼& bad mark掃描識別

  • 檢測的同時進行條碼、Badmark識別,提高生產效率。(可識別1D, 2D, QR鐳射marking及印刷條碼)



所有不良類型全能檢出

  • 提取高度的測量數據,使用者可直觀地檢出在傳統2D AOI上難以檢測的引腳翹曲、組件傾斜等不良。并且針對組件大小、缺件、引腳翹曲、側立、立碑、反面、極性、錯件、焊點、連錫、引腳缺失、引腳板彎、橋接、文字檢查(OCR, OCV)、色環電阻、pin等等所有不良類型,均可完美檢出。

Detect all defect types in smt


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